SEM - SCANNING ELEKTRONENMICROSCOPIE


Met een SEM (‘rasterelektronenmicroscoop’) onderzoeken we het oppervlak van voorwerpen op verschillende manieren:
+ SEI (Secondary Electron imaging = Secundaire Elektronenweergave) voor uiterst gedetailleerd beeld met details kleiner dan 1nm.
+ BEI (Backscatter Imaging = Weergave door teruggestrooide elektronen) voor een beeld van relatief dieper gelegen materiaal.
+ EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometry = Weergave door karakteristieke röntgenstraling) voor de kwantitatieve samenstelling van een preparaat.

Voor niet-geleidende preparaten heeft de SEM een laag-vacuüm optie. Backscatter elektronen worden hierbij gebruikt voor de beeldanalyse. Een andere mogelijkheid is het opdampen van de niet-geleidende preparaten zodat deze toch geleidend worden. 

Met vergrotingen van 30x tot zelfs 300.000x is de SEM uitermate geschikt om 3D-oppervlakken te analyseren: breukoppervlakken (initiatie, breukrichting en snelheid), samenstelling van of vervuiling in materialen en microfenomenen (kruip en aantasting aan korrelgrenzen). Met onze SEM + EDX faciliteit wordt onderzoek naar een zeer hoog niveau verheven waardoor bewijsvoeringen sluitend worden.